1. Die Ursache des EFT/Burst-Immunitätstests (IEC/EN 61000-4-4)
Schaltstöße (zum Abschalten induktiver Lasten, Prellen von Relaiskontakten usw.) stören normalerweise andere elektrische und elektronische Geräte im gleichen Schaltkreis. Diese Art von Störungen weist eine hohe Amplitude, kurze Anstiegszeit, hohe Wiederholungsrate und geringe Energie auf.
2. Der Zweck des EFT/Burst-Immunitätstests (IEC/EN 61000-4-4)
Ziel ist die Schaffung einer gemeinsamen Bewertungsgrundlage für die Beurteilung der Leistung von Stromversorgungs-, Signal-, Steuer- und Erdungsanschlüssen elektrischer und elektronischer Geräte bei Einwirkung schneller, transienter Störungen.
3. Prüfpegel für die Prüfung schneller elektrischer Transienten
4. Funktionen des EFT/Burst-Generators
Entspricht den neuesten Standards IEC/EN 61000-4-4 und GB/T17626.4
Benutzerfreundliches 7-Zoll-Touchscreen-Display
Unterstützt mehrere Sprachen und erleichtert Benutzern
Integriertes Umgebungs-Selbsttestprogramm
Programmierbarer Betrieb
Vorprogrammierte IEC/EN 61000-4-4 Standard-Teststufen
Die Wellenform des Impulses erfüllt die Anforderungen einer Last von 50 Ohm und 1000 Ohm
Die höchste Pulsfrequenz beträgt bis zu 1,2 MHz
RS232/USB-Anschluss, PC-Steuerung und druckbarer Testbericht
5. IEC/EN 61000-4-4 EFT-Generatorbild
6. Technische Daten des IEC/EN 61000-4-4 EFT/Burst Generators
Modell | EFT S4 |
Konformer Standard | IEC/EN61000-4-4, GB/T 17626.4 |
Betrieb | 7-Zoll-Touchscreen |
Ausgangsspannung | 0,2 ~5 kV |
Frequenz | 1kHz~1200kHz ±10%, stufenlos einstellbar |
Polarität | Positiv/negativ/abwechselnd |
Laufzeit | 1~9999s, stufenlos einstellbar |
Interne Impedanz | 50Ω ±10% |
Impulsanstiegszeit | 5 ns ±30 % |
Impulsbreite | 50 ns ±30 % (50 Ω Last) |
35 ns – 150 ns (1 kΩ Last) | |
Ausgabemodus | IEC, benutzerdefiniert, programmierbar |
Auskupplung | BNC, Koppel-/Entkoppelnetzwerk |
Anzahl der Impulse | 1~255, stufenlos einstellbar |
Phase | 0~359 Grad synchron, asynchron, automatisch |
Burst-Zeitraum | 150~9999ms, stufenlos einstellbar |
Koppel-/Entkoppelnetzwerk | Eingebauter, einphasiger Dreileiter, 16A (Kundenspezifisch auf Anfrage) |
Stromversorgung | Wechselstrom 220 V ±10 % 50/60 Hz |
Umgebungstemperatur | 15 Grad ~35 Grad |
Technische Parameter des Kopplungs- und Entkopplungsnetzwerks | |
Stromspannung | 0~6 kV |
Dämpfungsverhältnis | <10% |
Koppelkondensator | 33nF |
Kopplungsmodus | L, N, PE frei kombinierbar |
Kapazität | Wechselstrom 220 V, 16 A |
7. Schaltplan des EFT-Generators
8. EFT-Testkonfiguration: kapazitive Kopplungsklemme (optional)
Die kapazitive Kopplungsklemme kann EFT (schnelle Transienten)/Bursts an die Testleitung koppeln, ohne dass eine elektrische Verbindung zum Anschluss des zu testenden Geräts, zur Kabelabschirmung oder zu einem anderen Teil des zu testenden Geräts besteht. Sie wird zusammen mit einem EFT-/Burst-Generator verwendet und dient zum Testen der EFT-/Burst-Interferenz des I/O-Datensignalleitungsanschlusses. Ihr Hauptzweck besteht darin, die EFT-/Burst-Interferenz an die I/O-Datensignalleitung des EUT zu koppeln. Das Produkt entspricht vollständig dem Standard IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4.
Spezifikation:
Max. Kopplungsspannung | ±7 kV |
Hafen | BNC |
Koppelkapazität | 100 bis 1000 pF |
Spezifikationen der Kupplungsplatte | 140 x 1000 mm |
9. Versuchsaufbau
Ein Testaufbau für Labortypprüfungen
Ein Testaufbau mit einem Standsystem aus zwei EUTs
